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概要
DA30-LおよびDFS30アナライザーには、シエンタオミクロン社の特許技術である偏向技術が搭載されています。
これにより、実験ジオメトリを機械的に固定したまま、高性能なARPES測定が可能です。
近年、µARPESやnanoARPESと高分解能測定の併用が注目される中で、最適なアライメントの実現が大きな課題となってきました。
DFS30には、この課題を解決するために新たに開発された静電3D焦点調整機能が実装されています。
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主な仕様 DA30-L
取付フランジサイズ DN200CF Working distance 34mm(±2.5mmまで調整可) 最大ベーキング温度 150℃ エネルギー分解能 3meV 検出器 MCP/digital camera パスエネルギー 2-200meV Kinetic energy範囲 Transmission mode:0.5-1500eV
Angular mode:3-1500eV
Deflection mode:3-200eV※本ページに記載された内容は予告なく変更する場合がありますのでご了承ください
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主な仕様 DFS30
取付フランジサイズ DN200CF Working distance 34mm(±2.5mmまで調整可) 最大ベーキング温度 150℃ エネルギー分解能 3meV 検出器 MCP/digital camera パスエネルギー 2-200meV Kinetic energy範囲 Transmission mode:0.5-1500eV
Angular mode:3-1500eV
Deflection mode:3-200eVアナライザー焦点調整機能 3次元 X,Y,Z(W.D.)に対して電気的フォーカス調整機能によりアナライザーの焦点を
光電子放出スポットに合わせることが可能※本ページに記載された内容は予告なく変更する場合がありますのでご了承ください
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オプション
- コンポーネント販売のほか 新規システムの構築、既設装置への導入、周辺機器の組込 などお客様のご要望に沿って設計いたします。
